概述

這篇文章講述了如何在使用制冷探測的近紅外系統(tǒng)中分析冷反射效應(yīng)。主要包括：

• 使用OpticStudio的鬼像生成器生成并加載鬼像文件，收集每個文件內(nèi)包含的漸暈和透過率的數(shù)據(jù)
• 根據(jù)用戶輸入的溫度數(shù)據(jù)(封裝、探測器、環(huán)境)計算冷反射積分系數(shù)
• 宏程序?qū)⑤敵龈鞅砻鍺ITD貢獻以及總NITD結(jié)果
• 所有NITD數(shù)值數(shù)據(jù)將保存為一個文本

本文示例文件請從以下鏈接下載：

http://customers.zemax.com/support/knowledgebase/Knowledgebase-Attachments/Zemax-Narcissus-Analysis-Macro/Zemax-Narcissus-Files.aspx

介紹

冷反射效應(yīng)是制冷探測的近紅外系統(tǒng)中，眾所周知的一種效應(yīng)。在該系統(tǒng)中，探測器為了達到較好的成像質(zhì)量會冷卻到非常低的溫度。因此在機械結(jié)構(gòu)和探測器之間便產(chǎn)生了很大的溫差。由于鏡片上的增透膜不會完全消除反射光，在系統(tǒng)的每個表面之間會殘留部分冷反射。并且機械結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的熱輻射也會到達探測器。如果鏡頭在進行光學(xué)設(shè)計時不考慮這些因素，在像面上很有可能會看到由冷反射造成的明顯的對比度差異。對于機械結(jié)構(gòu)溫度恒定且鏡片的相對位置固定的系統(tǒng)來說，可以采用電子控制式的非均勻矯正算法消除。但是由于環(huán)境溫度改變而導(dǎo)致機械結(jié)構(gòu)溫度的變化，或者透鏡系統(tǒng)需要移動進行重新對焦來補償機械結(jié)構(gòu)的熱膨脹時，都會導(dǎo)致冷反射再次出現(xiàn)。因此，在設(shè)計使用制冷探測的近紅外系統(tǒng)的過程中進行冷反射分析是非常重要的。本文附件中提供的宏程序是用來計算制冷紅外探測系統(tǒng)中冷反射導(dǎo)致的溫度差異(NITD)特性。宏程序的計算基于如下冷反射公式(1,2)：