摘要
PR6{Y]e% h_J 'dJS 高
數(shù)值孔徑的
物鏡廣泛用于光刻、顯微等方面。 因此，在
仿真聚焦時(shí)考慮光的矢量性質(zhì)是至關(guān)重要的。
VirtualLab可以支持此類
透鏡的
光線和場追跡分析。通過場追跡分析，可以清楚地顯示出由于矢量效應(yīng)引起的非對(duì)稱焦點(diǎn)。
相機(jī)探測器和電磁場探測器可以方便地研究聚焦區(qū)域的場，也可以深入研究矢量效應(yīng)。
]cbY@U3!2 m }k rG 
1 #_R`(C{ |[0|j/V%O 建模任務(wù)
8[eH8m#~$ mZm
