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摘要 '^Utbp2< Wzqb>. 掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測(cè)量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性,僅當(dāng)光程長(zhǎng)度差在相干長(zhǎng)度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測(cè)量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測(cè)量表面平滑變化的樣品。 u\XkXS` WY"Y)S
t@(9ga( l#b|@4:I 建模任務(wù) WBr:|F+~s /c@*eU I/HV;g:# 仿真干涉條紋 $>r>0S#+\& y|6@-:B. 0\'Q&oTo 走進(jìn)VirtualLab Fusion q#99iiG1 -XVEV ,g/ _eROJ $_RWd#Q( VirtualLab Fusion中的工作流程 d1V^2Hb? Pr5g6I'G •設(shè)置輸入場(chǎng) Q1`<fD
−基本光源模型[教程視頻] dP$8JI{ •使用導(dǎo)入的數(shù)據(jù)自定義表面輪廓 +UK%t>E8 •定義元件的位置和方向 2(m85/Hr\; − LPD II:位置和方向[教程視頻]QQ1824712522 h
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