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1.概述和背景 yFhB>i ]B=C|usJ Shintech開發(fā)了新功能,尤其對LC透鏡研究和設(shè)計很有幫助。 umLb+GbI4 {RB-lfrWs 【LC透鏡需要thicker cell gap】 .qob_dRA !6}O.Nu LC透鏡有較高的延遲值,超過幾千納米,間隙厚度需要做得更厚來得到更高的阻滯值。 _IeU+tS gw _$ 【LC材料與電場】 Z2"?&pKV gh6d&ucQ^ LC材料響應(yīng)電場,更厚的間隙帶可以產(chǎn)生更高的應(yīng)用電壓,這樣,LC透鏡就要求高電勢差。 &:=$wc 8j1ekv KLC{7"6e) u-"c0@ LC透鏡需要高電勢差 B}d.#G+_$x \M]-bw` 2.高阻膜和頻率 w{ `|N$ S=3^Q;V/1 有兩種模擬方法,一個是dynamics,另一種是statics,statics通常用來獲得V-T曲線圖,這里我們需要考慮statics模擬方式中電壓的意義。電壓頻率應(yīng)該為0[HZ],換句話說,statics是在DC假設(shè)的條件下計算出來的。 6b~28 }1-I[q6 我們將AC假設(shè)和高阻材料加入到新靜力學(xué)中。LC透鏡研究人員在此條件下成功地減少了應(yīng)用電壓,此為一個很大的設(shè)計技術(shù)革新。 [0[M'![8M -RJE6~>'\ Shintech LCD Master只能用AC假設(shè)的static和高阻材料來模擬LC透鏡 CVXytS?@x KjB/.4lLq 3.舉例 nW?R"@Zm ]IJv-( 下圖綠色部分表示高阻層,紅色線表示電極。 bzi|s5!'< 7+w'Y<mJ 5jq=_mHt Kt#,]] 下圖表示⊿nd曲線圖,延遲值取決于應(yīng)用電壓波形頻率。 ~YCuO0t -v?hqWMp#
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