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    [推薦]馬赫-澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-08-03
    摘要 wyMj^+ 2m  
    x24  
    干涉測量法是光學(xué)計(jì)量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個(gè)典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 Ayadvi(@P  
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    建模任務(wù) 7q<I7Wt  
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    元件傾斜引起的干涉條紋 K{%}kUj>  
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    元件移動(dòng)引起的干涉條紋 ++W_4 B!  
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