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摘要 A:V/i:IZfR
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干涉測量法是光學(xué)計量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 j~O"=?7!O
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 >Slu?{l' gCM(h[7A 建模任務(wù) >uJU25)| kI,O9z7A7  b#Vm;6BHD1
OGPrjL+ 元件傾斜引起的干涉條紋 9O-*iK }kMKA.O"
 BHDd^bd }XfRKGQw 元件移動引起的干涉條紋 9KMtPBZ
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 z/|tsVK F`57;)F 走進(jìn)VirtulLab Fusion :7pt=IA
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1"O VirtualLab Fusion工作流程
^2uT!<2 |L~RC −基本源模型[教程視頻] eI+p
- 設(shè)置組件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程視頻]
- 設(shè)置組件的非序列通道
− 非序列追跡的通道設(shè)置[用戶案例] eKL3Y_5p@
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iH)-8Q VirtualLab Fusion技術(shù) Zmy:Etqi
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