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摘要 7;-i_&vws 9PfU'm|h 干涉測量是一種光學計量的重要技術。 它被廣泛應用于表面輪廓,缺陷,機械和高精度熱變形等領域的測量。 作為一個典型的例程,在非序列場追跡的幫助下,我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀,本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 4 AmF^H D\&y(=fzf 建模任務 ~ai'
M# r%mTOLef h}<ZZ 元件傾斜引起的干涉條紋 \osQwGPV scEQDV =sVt8FWGY 元件移位引起的干涉條紋 g~D6.OZU 6
&Aa b56 BiCa " 文件信息 {hP&P )P+GklI{4 0!\q
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