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摘要 ~t.WwxY+ _taHf %\4 干涉測量是一種光學計量的重要技術。 它被廣泛應用于表面輪廓,缺陷,機械和高精度熱變形等領域的測量。 作為一個典型的例程,在非序列場追跡的幫助下,我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀,本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 %Mb(
c+7 F'Y2f6B 建模任務 p'uqh
e X g~$GE},, >TQBRA;' 元件傾斜引起的干涉條紋 8R??J>h5\ ,:dEEL+>c "`$'tk[ 元件移位引起的干涉條紋 }?Yr>ZRi Vm,f3~ r%m7YwXo 文件信息 x(/@Pt2B HN~v&, 3A}nNHpN
QQ:2987619807
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