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    [推薦]馬赫-曾德爾干涉儀 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-08-06
    摘要 ~t.WwxY+  
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    干涉測量是一種光學計量的重要技術。 它被廣泛應用于表面輪廓,缺陷,機械和高精度熱變形等領域的測量。 作為一個典型的例程,在非序列場追跡的幫助下,我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀,本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 %Mb( c+7  
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    建模任務 p'uqh e X  
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    元件傾斜引起的干涉條紋 8R??J>h5\  
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    元件移位引起的干涉條紋 }?Yr>ZRi  
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    文件信息 x(/@Pt2B  
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    QQ:2987619807
     
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