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    [推薦]干涉光學(xué)測試 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-08-07
    光學(xué)干涉裝置廣泛用于精密的表面或波前測試和細(xì)節(jié)分析,特別是菲索干涉儀作為工業(yè)上應(yīng)用最廣泛的表面輪廓檢測技術(shù)之一,正占據(jù)著重要的地位。我們在VirtualLab Fusion中構(gòu)建了一個基于斐索干涉儀的測試光學(xué)系統(tǒng),使用幾種類型的表面作為測試對象,并觀察不同的干涉條紋。此外,還介紹了用于鏡頭測試的馬赫-曾德爾干涉儀。 C=2"*>lTn  
    oW3{&vfz  
    用于光學(xué)測試的菲索干涉儀 C(7uvQ  
    }TD$ !  
    利用非序列場追跡技術(shù)建立了菲索干涉儀,給出了不同測試表面的干涉條紋。 8$}1|"F  
    )? WiO}"  
    馬赫-曾德爾干涉儀
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    VKRj 1LXz  
    我們在VirtualLab Fusion中構(gòu)建了馬赫-曾德爾干涉儀,并演示了元件的傾斜和偏移對干涉條紋的影響。 UV8,SSDTV  
    oyV@BHJO@  
    O.4ty)*  
    QQ:2987619807 Z{nJ\`  
     
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