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摘要 T5aeO^ x >| hqt8lY 干涉法是光學(xué)測(cè)量的重要手段。廣泛用于測(cè)量例如，表面輪廓，缺損，高精度機(jī)械和熱畸變。作為經(jīng)典案例，我們?cè)?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=VirtualLab',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_9">VirtualLab中搭建一個(gè)相干 激光光源的馬赫-澤德 干涉儀，并且演示傾斜和平移 光學(xué)元件會(huì)如何影響干涉圖樣。 L7N>p4h]Xj UbP$WIrq  :~~\{fm DK<}q1xi 模擬任務(wù) V# JuNJ $~r=I[5'(  6t4{aa!L|9 jNAboSf2Y 結(jié)果 ki]i[cdk _
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