通過從光學(xué)分析模型文件中讀取表面處方數(shù)據(jù)并編寫可由光學(xué)分析軟件讀取的宏文件來與光學(xué)分析軟件接口。SigFit編寫的宏文件將修改名義光學(xué)分析模型，以納入機(jī)械干擾的影響。這些干擾可能是表面運(yùn)動和形狀變化，集成的OPD或折射率分布。 ((Av3{05H&  
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熱光分析 f5//?ek  
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熱光分析涉及預(yù)測由于透射光學(xué)中溫度變化引起的折射率變化而引起的光學(xué)性能變化。如圖1所示，SigFit從熱有限元模型和熱光材料特性中獲取溫度分布預(yù)測值，并能夠使用兩種方法進(jìn)行熱光預(yù)測：OPD積分方法和用戶定義的梯度指數(shù)方法。 aMu6{u6  
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OPD集成方法 iUz?mt;k  
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熱光分析的第一種方法是通過有限元模型進(jìn)行積分，以計算沿積分路徑的光程差（OPD）。 5ppr;QaB  
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用戶定義的漸變索引方法 ms3"  
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SigFit中的第二種熱光分析方法為光學(xué)分析中用戶定義的漸變折射率鏡片功能生成輸入。在此技術(shù)中，SigFit生成受干擾折射率分布的三維表示，與SigFit隨附的動態(tài)鏈接庫結(jié)合使用，以允許進(jìn)行光學(xué)分析以獲得每個透鏡中任何位置的折射率。與OPD集成方法相比，此方法具有更高的準(zhǔn)確性，但計算量卻大得多。 8nZ_.  
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應(yīng)力光學(xué)分析 *_YH}U  
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類似于熱光分析，應(yīng)力光學(xué)分析可預(yù)測由于透射光學(xué)器件中的應(yīng)力引起的平均折射率變化而導(dǎo)致的光學(xué)性能。SigFit將有限元分析的應(yīng)力結(jié)果與應(yīng)力光學(xué)特性結(jié)合使用，以通過OPD集成方法計算OPD貼圖。沒有光學(xué)分析軟件將支持用戶定義的代表應(yīng)力-光學(xué)折射率分布的梯度折射率透鏡，因此只有OPD集成方法可用于應(yīng)力-光學(xué)分析。 Y*b$^C%2  
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應(yīng)力誘導(dǎo)的雙折射分析可預(yù)測由于透射光學(xué)器件中的應(yīng)力導(dǎo)致的雙折射反射率變化而導(dǎo)致的光學(xué)性能。 }!xc@
 
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SigFit將有限元分析的應(yīng)力結(jié)果與應(yīng)力光學(xué)特性結(jié)合使用，以生成代表積分雙折射的BIR和CAO INT文件。BIR和CAO文件是使用Jones演算沿積分路徑生成的。BIR和CAO文件可以導(dǎo)入到代碼V中進(jìn)行光學(xué)分析。 V.8Vy1