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摘要 si)920?E& <
=sO@0(< 干涉測量法是光學(xué)計(jì)量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個(gè)典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡,構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 1XwbsKQ} =T!M`
P.LMu 7QzUw 建模任務(wù) `NrxoU= o ;.j_ |[C3_'X {5:y,=Y 元件傾斜引起的干涉條紋 )|3?7?X *V5R[
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<o $:SHZe 元件移動(dòng)引起的干涉條紋 1)H+iN|im/ @"];\E$sI
sAWUtJ sFMSH:5z 走進(jìn)VirtulLab Fusion a3JG&6- RY/9Ku `
.XTBy/(0 Y@F@k(lOo VirtualLab Fusion工作流程 r:<UV^; 9l y?;&(Tcbt8 −基本源模型[教程視頻] *JUP~/Nr
- 設(shè)置組件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程視頻]
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− 非序列追跡的通道設(shè)置[用戶案例] le`fRq8f& ^ola5w
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