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我們提出了一種處理傅里葉變換的方法,其并不需要二次多項(xiàng)式相位項(xiàng)的抽樣,而是用解析的方法處理。我們提出該理論的同時(shí)也給出了幾個(gè)例子證明其潛力。 <ht>> e\yj>tQJg 1.簡介 $35Oyd3s< ]ei])
JI 物理光學(xué)建模需要頻繁地從空間轉(zhuǎn)換到角頻域,反之亦然。這可以由電場和磁場分量的傅里葉變換得到。所以,快速傅里葉變換(FFT)算法成了快速物理光學(xué)建模的支柱[1]。FFT技術(shù)的數(shù)值計(jì)算量與場分量復(fù)振幅所需采樣點(diǎn)的數(shù)量近似成線性關(guān)系。在光學(xué)中,我們經(jīng)常處理有強(qiáng)波陣面相位的場分量,例如:球形。但是由于2π模,平滑的波陣面相位的復(fù)抽樣導(dǎo)致了大量的數(shù)值計(jì)算工作,甚至在FFT中也是如此。 1c}'o*K_% 8U;!1!+
7) 2.理論 qWanr7n]@ 2.1 場的表征:提取二次相位 Rw/G =zV@2 Xrz0ch 我們從空間域的符號(hào)開始,在本文中我們使用符號(hào) 對應(yīng)6個(gè)場分量,也就是V = (E, H): [")0{LSA= PN.6BJvu ItRGq ![](http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/190805/1-1ZP51016053R.png) (1) 92SB'T> 在公式1中,我們假設(shè)場 有兩部分:衍射場 和一個(gè)平滑的波陣面相位exp(iψ(ρ))。對于得到的結(jié)果,我們從波陣面相位中提取二次相位exp(iψ(ρ))并且將余下的部分認(rèn)為是余項(xiàng)場 。假設(shè)exp(iψ(ρ))可由其實(shí)數(shù)系數(shù)C和D = (Dx, Dy)給出: {xH
\!!"T s]I],>}RU ![](http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/190805/1-1ZP5101T0K9.png) (2) 顯然,在強(qiáng)二次相位情況中,全場 比余項(xiàng)場需要更多的抽樣量。所以,我們的目標(biāo)是通過FFT且無二次相位項(xiàng)exp(iψ(ρ))抽樣的情況下,計(jì)算V(ρ)的傅里葉變換。 mdZELRu <5X@r#Lz 2.2.半解析傅里葉變換 .1pEq~> $<aBawLZO 從卷積定理可知: r!M2H{ P\M+ZA ; ![](http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/190805/1-1ZP5101941608.png) (3)
;=7z!:) 通常來說,項(xiàng) 必須進(jìn)行數(shù)值計(jì)算處理。另一方面,從數(shù)學(xué)角度[2]我們可知: )T4L^^` Qb|dp~K.M ![](http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/190805/1-1ZP510205K61.png) (4) h)<R#xw 適用于任何復(fù) ,只要R{a} ≥ 0且a ≠ 0。 fC-^[Af) 在該數(shù)學(xué)工具的幫助下,項(xiàng)κ[exp(iψ(ρ))]的解析表征可以推導(dǎo)出來: RhJ<<T.2 ![](http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/190805/1-1ZP5102241111.png) (5) 其中: 6
%=BYDF ![](http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/190805/1-1ZP510240CE.png) (6) 其中常數(shù)項(xiàng) 。 tS9m8(Hr%Q 將公式5帶入公式3,通過改變卷積和傅里葉變換積分的階次,我們發(fā)現(xiàn) 可以表示為: 7d<v\=J} ![](http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/190805/1-1ZP5102626107.png) (7) 其中: 1]<!Xuk^f ![](http://www.infotek.com.cn/uploads/allimg/190805/1-1ZP5102I5318.png) (8) 這里, 和坐標(biāo)項(xiàng) 。公式7-8是半解析傅里葉變換的數(shù)學(xué)表達(dá)式。它表示全場的FFT可被兩個(gè)余項(xiàng)場的FFT替代。 W+eN%w5 +/X'QB$R 3.數(shù)值仿真 g|zK%tR_P [_0g^(` 這些概念在物理光學(xué)建模和設(shè)計(jì)軟件Wyrowski VirtualLab Fusion[3]中實(shí)現(xiàn)。 SH(kUL5 I,S'zHR 3.1.有效性測試1:純二次相位 KF'M4P ~3%3{aa 在第一組測試中,我們準(zhǔn)備了余項(xiàng)場 ,其幅度信息如圖1所示,且相位為零。我們將不同的二次相位項(xiàng)exp(iψq(ρ))與之相乘,組成 。然后我們分別對全場 應(yīng)用FFT和半解析FFT。 Z\L@5.*ydE j*zK"n b1#=q0Zl 圖2展示了不同情況下FFT和半解析FFT所需的采樣點(diǎn)?梢园l(fā)現(xiàn)當(dāng)場有強(qiáng)二次相位時(shí),半解析FFT需要比FFT少得多的抽樣點(diǎn)。 J#kdyBmuO toWmm(7v '-vyQ^ 在圖3中我們給出了三個(gè)典型位置的角頻譜的振幅。解釋了波陣面相位的物理意義,因此當(dāng)波陣面相位非常小時(shí),在FT中衍射效應(yīng)占主導(dǎo)地位。否則,當(dāng)波陣面相位增加時(shí),F(xiàn)T展現(xiàn)了越來越多的幾何特征。 Gw./qu-W Z~uKT n 3.2 有效性測試2:球形相位 ]M2<I#hF. 在第二組中,我們將乘上另一種相位:球形相位 。 ]/bE${W*] 不像測試1,我們只能用解析方法處理二次部分而不能處理整個(gè)球形相位。所以,余項(xiàng)場的相位不再是零而是球形和二次相位之間的差值,并且它會(huì)隨著球半徑r的減小而越來越大。 wgyO% 不同情況下FFT和半解析FFT的抽樣點(diǎn)于圖4給出。結(jié)果顯示在強(qiáng)球形相位情況下,由于相位差, 需要更多的抽樣點(diǎn),這導(dǎo)致了半解析FT的抽樣數(shù)量同樣增加了。 `[KhG)Y7t QdTe!f| 1+jYpYEQW 4.結(jié)論 d.AjH9 jg 我們論證了半解析FFT的推導(dǎo)并且展示了幾個(gè)數(shù)值例子。事實(shí)表明,半解析FFT的采樣僅取決于余項(xiàng)場。在波陣面相位較強(qiáng)的場中,半解析FFT需要的采樣點(diǎn)明顯較少。 K[[k,W]qb p[)<d_ 參考文獻(xiàn) <C77_t [1] E. O. Brigham, “The fast Fourier transform and its applications.” (1988). @>]3xHE6#= [2] L. Mandel and E. Wolf, Optical coherence and quantum optics (Cambridge university press, 1995). ]Yg EnZ [3] “Wyrowski VirtualLab Fusion, developed by Wyrowski Photonics UG, distributed by LightTrans GmbH,”. h7$!wf!I ~Z2eQx
jtM KV_Ga8hs QQ:2987619807 !cb#fl
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