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摘要 _W(xO
|,M *I?-A(e 干涉測量是一種光學計量的重要技術。 它被廣泛應用于表面輪廓,缺陷,機械和高精度熱變形等領域的測量。 作為一個典型的例程,在非序列場追跡的幫助下,我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀,本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 )$^xbC#j`3 TYuP
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