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摘要 AF3t#)q
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 K7f-g]Ibdn m\Tq0cT$ 干涉測量法是一項用于光學測量的重要技術。它被廣泛應用于表面輪廓、缺陷、機械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例，在非序列場追跡技術的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 [7I| 8
['s_qCA [ 建模任務 o=`9JKB~
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Gzp)OHgJ 7abq3OK+` 由于組件傾斜引起的干涉條紋 hq,;H40%/
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 _ZS<z Q' A\# ? rK 文件信息 8dA/dMQ
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