-
UID:317649
-
- 注冊(cè)時(shí)間2020-06-19
- 最后登錄2025-02-06
- 在線時(shí)間1683小時(shí)
-
-
訪問TA的空間加好友用道具
|
摘要 wQSye*ec IWQ0I&tzdx e@Lxduq 楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動(dòng)特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個(gè)量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫,在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個(gè)著名的實(shí)驗(yàn)。 IT1YF.i 使用一個(gè)單點(diǎn)光源,我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對(duì)干涉的影響;在擴(kuò)展光源的情況下,我們觀察到干涉對(duì)比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。 G}fBd Do/R.Mgy* UX@%1W!8 任務(wù)描述-單個(gè)軸上點(diǎn)光源 OT%E|) 6' ?T/]w-q> Uj):}xgi' 固定狹縫距離(500μm)和變化的狹縫寬度 P.'.KZJ:WD STp9Gh- OG/b5U 固定狹縫寬度(100μm)和變化的狹縫距離 rD].=.?1 uiVNz8H R}ki%i5| tWIs
|