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楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動(dòng)特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個(gè)量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過(guò)使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫，在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個(gè)著名的實(shí)驗(yàn)。 p=65L
使用一個(gè)單點(diǎn)光源，我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對(duì)干涉的影響；在擴(kuò)展光源的情況下，我們觀察到干涉對(duì)比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。 QM
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1a0%n 任務(wù)描述-單個(gè)軸上點(diǎn)光源 Ty2 1-0 F BQcrF{q <I{)p;u1 固定狹縫距離（500μm）和變化的狹縫寬度 C]tHk)<|42 t@TBx=16 w7?&eF(w( 固定狹縫寬度（100μm）和變化的狹縫距離 SG{> t* E oc>n e]_' $vC!Us{z Xq9n-;%zL 任務(wù)描述-單個(gè)離軸點(diǎn)光源 L)5YX-? QGYO{S  ,{ C  Y7yh0r_ |
