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高數(shù)值孔徑的物鏡廣泛用于光刻、顯微等方面。 因此,在仿真聚焦時(shí)考慮光的矢量性質(zhì)是至關(guān)重要的。VirtualLab可以支持此類透鏡的光線和場(chǎng)追跡分析。通過場(chǎng)追跡分析,可以清楚地顯示出由于矢量效應(yīng)引起的非對(duì)稱焦點(diǎn)。相機(jī)探測(cè)器和電磁場(chǎng)探測(cè)器可以方便地研究聚焦區(qū)域的場(chǎng),也可以深入研究矢量效應(yīng)。 YhC|hDC v53|)]V
%}XyzGq{ aeAx0yE[p 建模任務(wù) eg1F[~YL/ W,_2JqQp sH >zsc 概述 HIC!:| 25@@-2h @ •案例系統(tǒng)已預(yù)先設(shè)置了高數(shù)值孔徑物鏡。 1-&L-c. •接下來,我們演示如何按照VirtualLab中建議的工作流程在示例系統(tǒng)上執(zhí)行仿真。 {];-b0MS~ vJV/3-yX
MX.?tN#F|H A
r>BL2@ 光線追跡仿真 c&
bms)Jwa Fmz+ Xb •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”作為模擬引擎。 i$<")q •單擊go! 1MT,A_L •獲得了3D光線追跡結(jié)果。 Ndgx@LTQQ 5Z6MQ`(k
g2=PZR$ ik;F@kdm` 光線追跡仿真 &|db}\jT V
w58w`e •然后,選擇“光線追跡”作為模擬引擎。 EbVva{;#$; •單擊go! ZmNNR 1%/ •結(jié)果得到點(diǎn)圖(二維光線追跡結(jié)果)。 ItZYOt|Hn G#^0Bh&
^H{YLO 9 %i\) 場(chǎng)追跡仿真 ,VSO;:Z
UT9u? •切換到場(chǎng)追跡,然后選擇“第二代場(chǎng)追跡”作為模擬引擎。 ]^>:)q •單擊go! x{tlC}t V*@Y9G a7453s L[,19;( 場(chǎng)追跡仿真(相機(jī)探測(cè)器) t8rFn T#*H •上圖僅顯示Ex和Ey場(chǎng)分量積分的強(qiáng)度。 BenyA:W" •下圖顯示Ex、Ey和Ez分量積分的強(qiáng)度:由于在高數(shù)值孔徑情況下Ez分量相對(duì)較大,因此可見明顯的不對(duì)稱性。 `|nCnT' v\@RwtP
gq/Za/!6 X{OWDy 場(chǎng)追跡仿真(電磁場(chǎng)探測(cè)器) =WBfaxL}
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