中國科學院上海光學精密機械研究所精密光學制造與檢測中心在超精密光學大口徑復雜曲面的偏折測量中取得新進展。研究首次提出了波前編碼偏折測量技術，顯著提升測量景深，消除偏折測量中位置-角度不確定問題，實現無需精確對焦條件的高精度面形測量。該研究成果大大提高了偏折測量技術的靈活性和精度，拓展了偏折測量技術在大口徑元件測量時遠距離測量的能力，為未來智能光學制造的發(fā)展打下基礎。相關成果發(fā)表于Optics Letters。 _fcS>/<a  
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