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    [技術(shù)]干涉光學(xué)測試 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2022-12-20
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    光學(xué)干涉裝置廣泛用于精密的表面或波前測試和細(xì)節(jié)分析,特別是菲索干涉儀作為工業(yè)上應(yīng)用最廣泛的表面輪廓檢測技術(shù)之一,正占據(jù)著重要的地位。我們在VirtualLab Fusion中構(gòu)建了一個基于斐索干涉儀的測試光學(xué)系統(tǒng),使用幾種類型的表面作為測試對象,并觀察不同的干涉條紋。此外,還介紹了用于鏡頭測試的馬赫-曾德爾干涉儀。 AA XQ+!  
        
    用于光學(xué)測試的菲索干涉儀 kInU,/R*  
    sl_f+h0  
         X?aj0# Q  
    利用非序列場追跡技術(shù)建立了菲索干涉儀,給出了不同測試表面的干涉條紋。 \AOHZ r  
    馬赫-曾德爾干涉儀
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    g3| 62uDF  
         :h8-y&;  
    我們在VirtualLab Fusion中構(gòu)建了馬赫-曾德爾干涉儀,并演示了元件的傾斜和偏移對干涉條紋的影響
     
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