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    [產品]受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡原理 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2023-09-04
    摘要 Bv!j.$0d{  
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    受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技術，以實現(xiàn)在生物應用的超分辨率。在這種方法中，兩束激光—一束正常，一束轉變成甜甜圈模式—被疊加到熒光樣品上。通過使用熒光過程的發(fā)射和損耗以及利用由此產生的飽和效應，與通常的顯微鏡技術(例如，寬視場顯微鏡)相比，后反射光顯示出更高的分辨率。在本文檔中，介紹了這種設備的基本設置。為了模擬飽和效應，在焦點區(qū)域采用等效孔徑。 jk 9K>4W  
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    任務說明                                                                           h7I_{v8  
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    多重光源                                                                           6^UeEmjc  
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    螺旋相位板                                                                           rDUNA@r  
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