時(shí)間地點(diǎn)主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司   蘇州黌論教育咨詢有限公司 B., BP  
授課時(shí)間：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 jp@X,HES  
授課地點(diǎn)：上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路 819 號(hào)中暨大廈 18 樓 1805 室 W tHJG5  
課程講師：訊技光電高級(jí)工程師 QnS#"hc\a  
課程費(fèi)用：4800RMB(課程包含課程材料費(fèi)、開票稅金、午餐費(fèi)用) |W@Ko%om  
課程簡介雜光理論和雜光問題研究要從以下幾個(gè)方面探索：雜散光輻射理論，雜散光合格判定標(biāo)準(zhǔn)、系統(tǒng)雜光測試方法，雜光分析與軟件，BSDF 與測量數(shù)據(jù)，雜光抑制設(shè)計(jì)等。本課程介紹空間光學(xué)系統(tǒng)的雜散光來源，以及對(duì)紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的影響，在簡化分析上，討論了雜散光分析的物理模型，利用已有的光學(xué)系統(tǒng)模型討論了雜散光計(jì)算和分析方法。用具體的模型說明雜散光分析和計(jì)算假設(shè)條件，為以后利用軟件進(jìn)行雜散光分析打下基礎(chǔ)。課程分為兩部分，第一部分：雜散光分析與控制技術(shù)（2.5 天），第二部分：角分辨散射光測量技術(shù)（0.5 天） 6d2eWS  
1. 雜散光介紹與術(shù)語 F:[[
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1.1 雜散光路徑 a?PH`5O  
1.2 關(guān)鍵面和照明面 lA;^c)  
1.3 雜光內(nèi)部和外部雜散光 ?~#[cx  
2. 基本輻射度量學(xué)-輻射 JO&RuAq  
2.1 BSDF 及其散射模型 p=Leoc1  
2.2 TIS 總散射概念 8>D*U0sNl  
2.3 PST(點(diǎn)源透射比) ITi#p%  
3.雜散光分析中的光線追跡 yf`_?gJ6d  
3.1FRED軟件光線追跡介紹 BI<9xl]a  
3.2構(gòu)建雜散光模型 1/qD5 *`Y  
定義光學(xué)和機(jī)械幾何 jsr
)  
定義光學(xué)屬性 mqUDve(  
3.3光線追跡 Fm6]mz%~u#  
使用光線追跡來量化收斂速度 9F6dKPN:  
重點(diǎn)采樣 -f1}N|hy  
反向光線追跡 ImH9 F\  
控制光線Ancestry以增加收斂速度 ]Y76~!N  
使用蒙特卡洛光線劈裂增加收斂速度 qe(C>qjMbG  
使用GPU來進(jìn)行追跡 /h`gQyGuY  
RAM內(nèi)存使用設(shè)置 SMRCG"3qwA  
4.散射模型 g2'K3e?.%  
4.1來自表面粗糙的散射 !8W0XUqh+  
低頻、中頻、高頻 u|u)8;'9(  
RMS粗糙度與BSDF的關(guān)系 ~|ZAS]  
由PSD推導(dǎo)BSDF H1KXAy`&  
擬合BSDF測量數(shù)據(jù) r<