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摘要 _i/t?7 H^YSJ6 斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 .A6(D$O k ~%YBI9$+
D1__n6g[ I1PuHf Qs 建模任務(wù) N!g9*Z ;[fw]P n K_dOq68_ .'Vww 傾斜平面下的觀測(cè)條紋 _-EyT ]\!?qsT3}
:_O%/k1\@ 'Fmvu 圓柱面下的觀測(cè)條紋 Yb E-6|cz |+T1XYG5 V{JAB]?^ #-bA[eQV 球面下的觀測(cè)條紋 >Z1sb n 5H ue7'LS @HOBRRm` )kP5u`v VirtualLab Fusion 視窗 ub|V\M{ ayiu,DXx 7AObC4 g VirtualLab Fusion 流程 z_|/5$T>U t25,0<iW 3g >B"t 設(shè)置入射場(chǎng) &}A[x1x06) )a-Du$kd - 基本光源模型[教程視頻] ;cQ6g`
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