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摘要 yh).1Q-D
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 w{]B)>! 1W D&] x Kx 干涉測量法是一項用于光學測量的重要技術。它被廣泛應用于表面輪廓、缺陷、機械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例，在非序列場追跡技術的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 vG=Pi'4XXo
MJa` 4 [/ 建模任務 ZVit] 3hd
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 A;f)`i0l, m}2hIhD9 由于組件傾斜引起的干涉條紋 MOHw{Vw(
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 }g[Hi` ;6?,Yhk$h 由于偏移傾斜引起的干涉條紋 y{XNB}E }"q#"s
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