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清華大學(xué)“數(shù)字自適應(yīng)光學(xué)架構(gòu)與系統(tǒng)”專利公布據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告,清華大學(xué)申請一項名為“數(shù)字自適應(yīng)光學(xué)架構(gòu)與系統(tǒng)”,公開號CN202410573482.3,申請日期為2024年5月10日。 專利摘要顯示,本發(fā)明公開了數(shù)字自適應(yīng)光學(xué)架構(gòu)與系統(tǒng),包括對原始光場圖像進行像素重排得到低空間采樣率的子孔徑圖像;利用TIS算法對低空間采樣率的子孔徑圖像進行處理得到高空間采樣率的子孔徑圖像;利用由粗粒度到細粒度的波前梯度估計算法對高空間采樣率的子孔徑圖像的空間偏移量進行估計得到第一波前梯度,并利用訓(xùn)練好的MLP模型將第一波前梯度轉(zhuǎn)換為第一波前像差;基于第一波前像差對高空間采樣率的子孔徑圖像進行相空間解卷積運算得到局部圖像的圖像重建結(jié)果。本發(fā)明能夠進行高速寬視場波前檢測,采用湍流誘導(dǎo)掃描算法提高采樣率,使用非相干孔徑合成算法實現(xiàn)去像差、高分辨成像。 ![]() 關(guān)鍵詞: 自適應(yīng)光學(xué)
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