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    [分享]膜厚儀的測(cè)量原理 [復(fù)制鏈接]

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    離線hello2024
     
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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2024-06-13
    膜厚儀的測(cè)量原理主要基于磁感應(yīng)電渦流原理。分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。 T("Fh}  
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