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Zemax光學(xué)設(shè)計從入門到精通	Zemax光學(xué)設(shè)計從基礎(chǔ)到實踐	成像衍射光學(xué)元件設(shè)計及應(yīng)用	現(xiàn)代光學(xué)與光子學(xué)技術(shù)
訊技光電:VirtualLab Fusion獨家供應(yīng)商	微小光學(xué)與微透鏡陣列	光學(xué)設(shè)計與光學(xué)元件	計算光學(xué)帶來的成像革命

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[求助]剪切干涉儀條紋 [復(fù)制鏈接]

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離線李直育

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只看樓主倒序閱讀樓主發(fā)表于: 2024-06-17

THORLABS的SI100型號的剪切干涉儀引入的光程差近似為6.6mm，我用846.8nm波長、帶寬2nm的單模光源作為準直光源，相干長度計算得358.53512微米，小于光程差，正常來說，不是應(yīng)該相干長度大于光程差才能觀察到相干條紋嗎？為什么實際使用中可以觀察到相干條紋？