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摘要 "N+4TfXy )D8op;Fn 斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 WtOjPW 0D5Z#iW>1 #u&fUxM:AS CFpBosoFt^ 建模任務(wù) Rhc:szDU l2F#^=tp pDS[ecx g[} L
? 傾斜平面下的觀測(cè)條紋 ;Q{D]4 FLmD?nw .j4y0dh33 FB6Lz5:Vf 圓柱面下的觀測(cè)條紋 &y?
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