摘要 z#,?*v  
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掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。 s[xdID^3.  

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仿真干涉條紋 ->93.sge  
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走進(jìn)VirtualLab Fusion ^-=,q.[7  
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VirtualLab Fusion中的工作流程 '9^x"U9c  
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•設(shè)置輸入場 /u#uC(Uwl  
−基本光源模型[教程視頻] tWc!!Hf2j  
•使用導(dǎo)入的數(shù)據(jù)自定義表面輪廓 gy*