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摘要 <^><3U` SG'JE}jzO 高NA物鏡廣泛用于光學(xué)光刻,顯微鏡等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考慮光的矢量性質(zhì)。 使用VirtualLab對(duì)這種鏡頭進(jìn)行光線追跡和場追跡分析非常方便。通過場追跡,可以清楚地展示不對(duì)稱焦斑,這源于矢量效應(yīng)。相機(jī)探測器和電磁場探測器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,可以讓用戶深入了解矢量效應(yīng)。 )"u:ytK{ j%tEZ"H b|?;h21rG #Z9L_gDp 建模任務(wù) 2$0)?ZC?= Zf:]Gq1 y-+G
wa3 概觀 fI:H8 vrIV%l= N}QFGX 光線追跡仿真 x)viY5vjH S/Oxr%H •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作為仿真引擎。 'mV:@].le MOHHZApt •點(diǎn)擊Go! !nw[ •獲得3D光線追跡結(jié)果。 ;}4k{{K (F&YdWe:
36A;!1 ;Bs^iL 光線追跡仿真 eyB_l.U7 =vEkMJOs h~UJCnzS •然后,選擇“光線追跡”(Ray Tracing)作為仿真引擎。 =5s$qb?# •單擊Go! v33T @ •結(jié)果,獲得點(diǎn)列圖(2D光線追跡結(jié)果)。 !J^tg2M8: pVG>A&4 vm}G[ 08r[K(bfb, 場追跡仿真 ^H=o3#P~L !0jq6[& fVUKvZ}P* •切換到場追跡并選擇“第二代場追跡”(Field Tracing 2nd Generation)作為仿真引擎。 W_JhNe •單擊Go! vttrKVA |- OHve4A l l:jsm +x]e-P% 場追跡結(jié)果(攝像機(jī)探測器) EfSMFPM
t)(v4^T Q8Te'1Ln! •上圖只顯示整合了Ex和Ey場分量的強(qiáng)度。 3B#!2| •下圖顯示整合了Ex,Ey和Ez分量的強(qiáng)度。 RV92qn
B Ez分量:由于在高NA情況下相對(duì)較大的Ez分量,可以看到明顯的不對(duì)稱性。 l<N?'
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