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干涉測(cè)量是用于精確測(cè)量中最廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。通過觀察和研究條紋圖案，可以判斷表面形狀質(zhì)量或關(guān)于光譜帶寬的儀表信息。利用VirtualLab Fusion中非序列場(chǎng)追跡技術(shù)，可以輕松地設(shè)置和分析光學(xué)干涉儀。在這里提出兩個(gè)經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子：一個(gè)高質(zhì)量相干激光光源，另一個(gè)寬帶白光光源。 4g9VE;Gd
xPv&(XZR 基于激光的邁克爾遜干涉儀 <rI~+J]s
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GC5j\ 2}A V_]] 借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術(shù)建立了該邁克爾遜干涉儀，并展示了不同配置中的干涉條紋。 f#j AjzmYL
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5h U.3.L 白光邁克爾遜干涉儀 ORTM [cL
WUWQcJj ?{'Q}% 模擬使用氙氣燈作為光源的邁克爾遜干涉儀，充分考慮了光源的光譜特性（有限的相干長(zhǎng)度）。 )_ uK(UNZ5
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