雙偏振極化干涉測量分析系統(tǒng)（Dual Polarisation Interferometry, DPI）是英國farfield sensors公司自2000年以來陸續(xù)推出的AnaLight系列產(chǎn)品[1]。目前，在國內(nèi)大陸地區(qū)還未有該系列產(chǎn)品的應(yīng)用。由于其在實(shí)時(shí)測量分子間（生物分子間、生物大分子與藥物小分子等）相互作用，表面結(jié)構(gòu)分析方面均具有靈敏、即時(shí)、信息豐富的特點(diǎn)，DPI系統(tǒng)越來越廣泛地應(yīng)用在生物、醫(yī)學(xué)及材料科學(xué)方面。 y>YQx\mK
 
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雙偏振極化干涉測量分析系統(tǒng)（DPI）的原理[1，2] 48 n5Y~YS  
DPI是基于光的Thomas Yuong干涉現(xiàn)象發(fā)明的。如圖，光通過平行相鄰的兩片薄層光導(dǎo)介質(zhì)傳播，光線穿過光導(dǎo)介質(zhì)后發(fā)生干涉產(chǎn)生相應(yīng)的干涉條紋，用適當(dāng)?shù)墓鈾z測器可以得到動態(tài)的干涉條紋變化信息。如果在其中一個(gè)的表面上（傳感面）固定了分子，或者表面固定的分子與溶液中的物質(zhì)發(fā)生了相互作用，光在此介質(zhì)中的傳播就會受到影響，由此產(chǎn)生不同的干涉條紋信號。 Zj]jE%AT  
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