摘要 mQ3gp&d3W  
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元件內(nèi)部場分析器：FMM允許用戶可視化和研究微結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)內(nèi)部的電磁場分布。為此，使用傅立葉模態(tài)法/嚴(yán)格耦合波分析（FMM/RCWA）計(jì)算周期性結(jié)構(gòu)（透射或反射、電介質(zhì)或金屬）內(nèi)部的場。還可以指定場的哪一部分應(yīng)該可視化：正向模式、反向模式或兩者同時顯示。 ^UBzX;|p  
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元件內(nèi)部場分析儀：FMM A4/gVi|  
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元件內(nèi)部場分析器：FMM是光柵光學(xué)裝置的獨(dú)有功能，可提供光柵結(jié)構(gòu)內(nèi)部電磁場的可視化。 ,6ae='=d  
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評估模式的選擇 mR$0Ij/v  
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為了更容易地區(qū)分入射場、反射場和透射場，可以僅評估正向或反向傳播模式，或者評估兩者的總和。 <) -]'@*c  
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評價區(qū)域的選擇 5"bg8hL  
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