我頂了

能不能分享一下你的tracepro學(xué)習(xí)秘笈��？真的很需要， [url=mailto:cxydjm1121@126.com]cxydjm1121@126.com[/url]

我非常需要，很希望你能繼續(xù)貼完，或好心把資料發(fā)到我的郵箱328143914@qq.com uc LDl  
真的非常需要

發(fā)吧發(fā)吧

我很組要您的資料，任務(wù)壓下來了，祈求您的幫助。guangmingzhong@163.com

fenxiangle ,xiexielohuz

關(guān)鍵在于重點(diǎn)采樣的設(shè)置。 YL[y3&K  
前提已經(jīng)設(shè)置好光機(jī)模型和光機(jī)零件的表面特性。 u%Z4 8wr  
步驟為： .SBN^fq  
1.從焦面或探測(cè)器出發(fā)，倒追出得到系統(tǒng)的所有關(guān)鍵面。 fQw|SW  
2.將所有關(guān)鍵面重點(diǎn)采樣目標(biāo)設(shè)置在直接看見它的鏡面。調(diào)整好合適的閾值，勾上重點(diǎn)采樣的光線追擊選項(xiàng)，開始追擊。 MN>U jFA  
3.追擊后，分析到達(dá)焦面的雜光組成。保留3~5個(gè)主要雜光入侵途徑，其余刪去，可極大提高追擊效率，又不妨礙追擊準(zhǔn)確性。

很好很好，我堅(jiān)決支持。不管用什么分析軟件，方法還是一樣的。 ^
AO2%09.S  
頂！��！

我對(duì)nicai的軟件挺有興趣的

頂一下