光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例：評估設(shè)計(jì)曲線 k0T?-iM  
jDQZQ NS  
例:評估一四分之一波片的光譜特性: rn<PR*  
=Zi2jL?On  
參數(shù)為：QWM@500,     12L     基底:GLASS(1.52) a4irokJv#  
bV ZMW/w  
層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). DGzw8|/(  
qUly\b 47  
Evaluation：新建工作目錄：File_Problem，出現(xiàn)問題目錄(Problem directory),輸入目錄名稱，單擊OK. Iu$K i  
4~B> 9<$e>  
打開Datebase窗口并輸入基底和層材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出現(xiàn)Datebase窗口： Mn)@{
^  

圖片:o1.jpg

"~D]E7Q3y  
wE~V]bmtW  
單擊Substrate或Layer Material可分別輸入基底和層材料，基底輸入：單擊NEW，輸入基底名稱， ,yd?gP-
O  

圖片:o2.jpg

;[fw]P n