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    [論文]薄膜厚度和消光系數(shù)的透射光譜測(cè)量方法(doc文檔) [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2009-09-16
    關(guān)鍵詞: 薄膜消光系數(shù)光譜
    薄膜厚度和消光系數(shù)的透射光譜測(cè)量方法摘要:本文提出薄膜厚度和消光系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)量法,論述了方法的測(cè)量原理和測(cè)量程序。該法的膜厚的測(cè)量范圍為~80nm到2000nm;膜厚的測(cè)量誤差大約為13nm。 hRiGW_t  
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