隨著電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)尺寸越來越小，目前出現(xiàn)了兩個特別引人注目的問題︰一是可接觸的電路節(jié)點越來越少；二是像在線測試（ In-Circuit-Test ）這些方法的應(yīng)用受到限制。為了解決這些問題，可以在電路布局上采取相應(yīng)的措施，采用新的測試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案。 o"L8n(\  
　　通過遵守一定的規(guī)程（ DFT-Design for Testability ，可測試的設(shè)計），可以大大減少生產(chǎn)測試的準備和實施費用。這些規(guī)程已經(jīng)過多年發(fā)展，當然，若采用新的生產(chǎn)技術(shù)和組件技術(shù)，它們也要相應(yīng)的擴展和適應(yīng)。本文主要介紹電路可測試性的相關(guān)知識，以及如何提高電路可測試性。 ad47 42  
　　1、什么是可測試性 2Q@Jp`#,4  
　　可測試性的意義可理解為︰測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種組件的特性，看它能否滿足預期的功能。簡單地講就是︰ J kAd3ls  
　　l．檢測產(chǎn)品是否符合技術(shù)規(guī)范的方法簡單化到什幺程度？ '@w'(}3!3R  
　　編制測試程序能快到什幺程度？ UzIE,A  
　　發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品故障全面化到什幺程度？ bj 8pqw|;  
　　接入測試點的方法簡單化到什幺程度？ llh +r?  
　　為了達到良好的可測試必須考慮機械方面和電氣方面的設(shè)計規(guī)程。當然，要達到最佳的可測試性，需要付出一定代價，但對整個工藝流程來說，它具有一系列的好處，因此是產(chǎn)品能否成功生產(chǎn)的重要前提。 kTT%< e  
　　2、為什么要發(fā)展測試友好技術(shù) ePI