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[分享]原子力顯微鏡的原理及其運用 [復制鏈接]

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高級工程師

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只看樓主倒序閱讀樓主發(fā)表于: 2010-05-20

關鍵詞：原子顯微鏡原理運用

一、原理

原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 公司的Binnig與史丹佛大學的Quate 于一九八五年所發(fā)明的，其目的是為了使非導體也可以采用掃描探針顯微鏡（SPM）進行觀測。