光學(xué)測(cè)量作為一種非接觸式測(cè)量方法，在某些方面與接觸式三坐標(biāo)測(cè)量相比具有本質(zhì)上的優(yōu)勢(shì)。它不使用接觸式測(cè)針進(jìn)行采點(diǎn)，而是利用了光的物理特性來(lái)進(jìn)行測(cè)量，這樣就能夠完全避免測(cè)針補(bǔ)償帶來(lái)的潛在問(wèn)題，也使被測(cè)物體表面不再受到測(cè)針接觸帶來(lái)的影響。而光學(xué)測(cè)頭的測(cè)量速度通常也遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于觸發(fā)式測(cè)頭。首先，光學(xué)測(cè)頭的采點(diǎn)方式都是連續(xù)的，不需要進(jìn)行測(cè)針歸位；而且在采點(diǎn)過(guò)程中，光學(xué)測(cè)頭也區(qū)別于觸發(fā)式測(cè)頭：觸發(fā)式測(cè)頭會(huì)因?yàn)榻佑|物體表面時(shí)速度過(guò)快而被認(rèn)為發(fā)生了碰撞，而光學(xué)測(cè)頭則完全不會(huì)出現(xiàn)這個(gè)問(wèn)題。 2Y\,[