浙江大學光學薄膜設(shè)計軟件 ;F5B)&/B
Autofilm 1.0功能簡介 <5$= Ta
Autofilm 1.0是浙江大學薄膜研究所開發(fā)的一套光學薄膜計算機輔助設(shè)計系統(tǒng)，它包括光學薄膜特性計算、優(yōu)化設(shè)計和監(jiān)控誤差模擬三大模塊。各個模塊的基本功能如下： W_sDF; JP
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l 特性計算： 給定膜系每層的折射率和光學厚度，以及基板、入射介質(zhì)等參數(shù)，求得各個波長上的光學特性。 Rdnd|
（1） 可以計算特定波長和入射角的反射率、透過率、反射位相變化、透射位相變化等特性值。 8L=QfKr
（2） 繪制透、反射率，位相變化相對于波長和入射角的曲線。 v(: VUo]H
（3） 繪制特定波長、入射角下的導納圖。 k*M{?4
（4） 可計算有吸收、色散的膜系，系統(tǒng)提供了材料庫，用戶可自行修改材料庫中的值和新增材料。 "{ V,(w8Dt
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l 優(yōu)化設(shè)計：給定特定波長和入射角情況下所要求的特性，求出膜系的結(jié)構(gòu)。 'HqAm$V+
（1） 可以針對特定波長和角度下各種偏振狀態(tài)的反射率、透過率、位相變化、位相變化差等條件進行優(yōu)化。 1H[lf
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（2） 系統(tǒng)中提供了五種優(yōu)化合成的方法：Powell共軛法和單純形法這兩種局域搜索的方法；統(tǒng)計試驗法和遺傳算法這兩種帶有隨機性質(zhì)的搜索方法；Needle方法這種自動合成的方法。 J2 5>t^
（3） 各種優(yōu)化合成的方法可以隨時中斷并交替使用。 *=2jteG=3.
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l 監(jiān)控誤差模擬：給定材料折射率及監(jiān)測信號誤差，用計算機模擬最后得到的膜系結(jié)構(gòu)，分析成品率。 yS3x))
（1） 可以針對每一層輸入折射率的誤差范圍，同時輸入總的信號監(jiān)測誤差，計算并繪制出最后的特性曲線。從曲線的離散程度可以分析出成品率的高低。 ^k)f oD
（2） 同時給出模擬得到的膜系結(jié)構(gòu)。
