一、明視野觀察（Bright field） >w2Q 1!
二、浮雕相襯顯微鏡（RC） y|e2j&m
三、微分干涉稱鏡檢術(shù)（Differential interference contrast DIC） i?a,^UM5n[
四、暗視野觀察（Dark field） A#Q0{z@H
五、偏光顯微鏡（Polarizing microscope ） Z:U gozdC
六、相差鏡檢法（Phase contrast） '0CXHjZ N
七、熒光顯微鏡（Fluorescence Microscopy） ^sT +5M^
以上列舉了常見的觀察顯微鏡的7種方法目錄，下面我們來說細(xì)談?wù)劯鱾�(gè)方法的不同在于哪里，我們應(yīng)該如何取舍。 l$q StL*8O
1）我們看一種大家都熟悉的鏡檢方式——明視野鏡檢，所有顯微鏡均能完成此功能； XN~#gm#
2）相差顯微鏡利用被檢物體的光程之差進(jìn)行鏡檢，也就是有效地利用光的干涉現(xiàn)象，將人眼不可分辨的相位差變?yōu)榭煞直娴恼穹睿词故菬o色透明的物質(zhì)也可成為清晰可見； Th7wP:iDP
3）微分干涉稱鏡檢術(shù)是利用特制的渥拉斯頓棱鏡來分解光束。分裂出來的光束的振動(dòng)方向相互垂直且強(qiáng)度相等，光束分別在距離很近的兩點(diǎn)上通過被檢物體，在相位上略有差別。由于兩光束的裂距極小，而不出現(xiàn)重影現(xiàn)象，使圖象呈現(xiàn)出立體的三維感覺； k1f3?l
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4）暗視野實(shí)際是暗場(chǎng)照明發(fā)。它的特點(diǎn)和明視野不同，不直接觀察到照明的光線，而觀察到的是被檢物體反射或衍射的光線。因此，視場(chǎng)成為黑暗的背景，而被檢物體則呈現(xiàn)明亮的象，m..m 暗視野觀察所需要的特殊附件是暗視野聚光鏡； & \"Y/b]
5）偏光顯微鏡是鑒定物質(zhì)細(xì)微結(jié)構(gòu)光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡。凡具有雙折射的物質(zhì)，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚，當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色發(fā)來進(jìn)行觀察，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡； -SQJH}zCT+
6）1975年，Robert Hoffman 博士發(fā)明2002年，專利到期，各顯微鏡廠家紛紛推出采用以自己名義命名的RC技術(shù)產(chǎn)品原理斜射光照射到標(biāo)本產(chǎn)生折射、衍射，光線通過物鏡光密度梯度調(diào)節(jié)器產(chǎn)生不同陰影，從而使透明標(biāo)本表面產(chǎn)生明暗差異，增加觀察對(duì)比度 ?jNF6z*M6
7）熒光鏡檢術(shù)是用短波長(zhǎng)的光線照射用熒光素染色過的被檢物體，使之受激發(fā)后而產(chǎn)生長(zhǎng)波長(zhǎng)的熒光，然后觀察。
