Intelliwave，是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形。
<)\y#N @&]#uRl|[ Intelliwave 干涉條紋分析仿真軟件
"dROb}szn =) E,8L Intelliwave是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括鏡子、透鏡、半導(dǎo)體芯片、和其它許多反射或不反射的表面。為了推斷鏡片表面外形，Intelliwave需要制造一個光學(xué)相位差來獲得干涉圖形，因為干涉條紋圖是干涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成，藉著干涉圖形的處理，主要在于鑒定待測光學(xué)儀器的表面外型。Intelliwave 結(jié)合了攫取、輸入、分析、以及許多實際干涉圖形文檔等等特性，更提供了強大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數(shù)據(jù)信息的優(yōu)點。
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