Intelliwave，是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形。
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'i0+ +~w?Xw, Intelliwave 干涉條紋分析仿真軟件
=!?[]>Dh Mhv1K|4s Intelliwave是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括鏡子、透鏡、半導體芯片、和其它許多反射或不反射的表面。為了推斷鏡片表面外形，Intelliwave需要制造一個光學相位差來獲得干涉圖形，因為干涉條紋圖是干涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成，藉著干涉圖形的處理，主要在于鑒定待測光學儀器的表面外型。Intelliwave 結合了攫取、輸入、分析、以及許多實際干涉圖形文檔等等特性，更提供了強大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數(shù)據(jù)信息的優(yōu)點。
]&C:> DJViy Intelliwave 應用的領域：
H@ %7\g,` YPha9M$AgU 高功率激光的外型和反射特性的量測
]pOYVf * $ z^gQ\\,4 極溫度（ Extreme Temperature）的應用
}osHA`x"2 1V|< A 天文上的應用 : 天文鏡片、天文望遠鏡
&'5@azU ]aC ':55( 光學量測
@<D' - mMt gp~yt0AU 對于非球狀光學結構有高分辨率
a=J@y K KInUe(g<9M 在半導體上的應用
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