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使用FRED的圖形用戶界面和它的內(nèi)置腳本語言,我們可以輕松地實(shí)現(xiàn)熱輻射和成像。盡管強(qiáng)力的光線追跡同樣是可能的,F(xiàn)RED使用了應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)工程算法的高效運(yùn)算器來實(shí)現(xiàn)熱成像和輻射計(jì)算。使用源自輻射度量學(xué)的技術(shù),用FRED追跡必要數(shù)量光線的可能需要的時(shí)間,我們可以高效并精確地完成熱成像、冷反射、雜散光、熱照明均勻性和熱自發(fā)輻射的計(jì)算。 }Eh &' l2I%$|)d 1. 熱輻射和熱成像是什么? mi[8O$^iJ
/Q_Dd 熱成像定義為產(chǎn)生一個(gè)場景的可視化二維圖像的過程,該圖像依賴于從場景到達(dá)成像儀器孔徑的熱輻射或紅外輻射的差異。熱成像系統(tǒng)通常會(huì)減去背景來增強(qiáng)在紅外場景中變化的對(duì)比度。當(dāng)背景不均勻時(shí),由于冷反射的存在,可能產(chǎn)生雜散信號(hào)。對(duì)于國防和安全問題尤為重要,在其中我們可以發(fā)現(xiàn)具有不同熱溫度或輻射率的物體,此時(shí)可以從圖像場景的剩余部分區(qū)分出它們。對(duì)于這個(gè)問題的主要應(yīng)用是:探測(cè)、分類和追跡隱藏在個(gè)人身上、包裹中、車輛上或船運(yùn)集裝箱中的武器、人員、車輛、物品和材料。圖1是一個(gè)非常好的案例,當(dāng)在FRED中進(jìn)行仿真時(shí),一個(gè)日常用品:茶壺,通過一個(gè)具有熱探測(cè)儀的攝像頭成像。 [v\m)5 n~.$iN 熱輻射是從一個(gè)光學(xué)儀器周圍的環(huán)境或結(jié)構(gòu)中發(fā)出的能量,它會(huì)引起雜散光問題。冷反射是一個(gè)熱輻射問題,由于反射到探測(cè)器上的輻射,在一個(gè)紅外系統(tǒng)中的熱輻射表現(xiàn)為在一個(gè)顯示圖像中的黑色圓形區(qū)域。 M=3gV?N aemi;61T\ 通常,這些系統(tǒng)通過探測(cè)疊加在大的背景上的小信號(hào)工作。在室溫下,黑體輻射曲線的峰值大致在10μm處。因此世界在這個(gè)波長處“發(fā)光”,發(fā)光的微小變化表明了溫度或輻射率的變化。特別的,當(dāng)一個(gè)冷卻的探測(cè)器圖像反映了自身,那么就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)局部背景的缺失。這通常表現(xiàn)為在圖像中央的黑點(diǎn)。有人可能稱之為“雜散黑”,而不是雜散光。 ck\W'Y*Q7 Ej1<T,w_ 在測(cè)量絕對(duì)輻射而不是相對(duì)信號(hào)的紅外輻射儀中,任何背景輻射是不可接受的。在這樣一個(gè)儀器中,冷卻整個(gè)儀器到低溫度來消除由于自輻射導(dǎo)致的雜散光是必須的。 bkS"]q)> 'by+hXk
@0d"^ 圖1 此圖演示了一個(gè)在茶壺表面具有不同輻射系數(shù)和溫度分布的暖茶壺的簡單問題。然后茶壺通過單透鏡成像,探測(cè)器放置在單透鏡后面。這種機(jī)械結(jié)構(gòu)輻射到了探測(cè)器上類型的問題,可以在許多引起熱問題的紅外系統(tǒng)中找到。
-&=dl_m 最近,已經(jīng)開始致力于紅外遙感應(yīng)用中,包括溫度的測(cè)量和繪圖、森林火勢(shì)的感知和控制、監(jiān)督和多光譜地表成像等。 [2h.5.af _
j`tR: 這些應(yīng)用種有許多是經(jīng)過長距離完成的,透過大氣,在大氣中IR能量的吸收是這些系統(tǒng)性能的一個(gè)影響因素。軍事的和基于空間的應(yīng)用一般來說可以通過探測(cè)器處理,探測(cè)器的工作波長落在8.0-15微米之間,在這個(gè)波段內(nèi)大氣的吸收是最小的。其他的應(yīng)用的波帶較寬,為0.9-300微米。 dqs~K7O^E V1~@ 2. FRED如何進(jìn)行光線追跡和顯現(xiàn)熱輻射和成像? V@[C=K
Qj*.Z4ue 在FRED中追跡熱輻射有幾個(gè)方法。第一種方法是創(chuàng)建一個(gè)光源,然后在光學(xué)系統(tǒng)中對(duì)它進(jìn)行強(qiáng)力光線追跡。第二種方法是通過光學(xué)系統(tǒng)從探測(cè)器后端進(jìn)行光線追跡,這需要較少的光線。在兩種方法中,能夠顯現(xiàn)二維和三維圖的熱成像是非常重要的。 p4
=/rkq PjH'5Y 事實(shí)上這里有兩個(gè)問題:計(jì)算時(shí)間和精度。在一個(gè)復(fù)雜系統(tǒng)中,如果分析者嘗試去了解設(shè)計(jì)中遞增量的影響,并且想要實(shí)時(shí)這樣做,光線追跡時(shí)間可能會(huì)特別長。反向光線追跡能夠使計(jì)算變得幾乎是交互式的。另外,由于冪指數(shù)收斂比均勻性快,即使每個(gè)微分區(qū)域只有幾束光線到達(dá)熱源,分析者幾乎可以肯定保證精確的結(jié)果。 -Jw4z#/- 6)7cw8^
cqSXX++CS, 圖2 兩個(gè)輻照度計(jì)算的比較:一個(gè)是使用前向光線追跡,另一個(gè)是使用后向光線追跡。后者需要比前者少1/53倍的光線達(dá)到同樣的準(zhǔn)確度。
E&eY79 熱自發(fā)輻射可以簡單描述:每個(gè)光學(xué)和機(jī)械結(jié)構(gòu)像朗伯輻射體一樣輻射能量,輻射出的能量是自身溫度和輻射系數(shù)的函數(shù)。通過追跡光線來模擬發(fā)射出的能量;在傳播過程中發(fā)生透射和反射時(shí),它們遵循幾何光學(xué)的規(guī)律。這些光線(它們表示熱能)累積到了FPA上。 om2N*W.gk Y~e)3e 根據(jù)這個(gè)計(jì)算,大多數(shù)軟件會(huì)讓用戶設(shè)置物體的溫度和輻射系數(shù)。從統(tǒng)計(jì)學(xué)的角度來看,這樣做完全是錯(cuò)誤的!在大多數(shù)“真實(shí)”的系統(tǒng)中,相對(duì)于光學(xué)和機(jī)械元件,F(xiàn)PA朝向一個(gè)非常小的固體角,因此當(dāng)大量光線被追跡時(shí),如果有的話,到達(dá)FPA的光線很少(圖3)。結(jié)果是熱自發(fā)輻射的錯(cuò)誤的估計(jì)。 Q$v00z]f* ~f[ Y; 有一種更加高效但是非最佳的方法。直接或者間接,大多數(shù)軟件允許用戶指定一個(gè)優(yōu)先的輻射方向;這在文獻(xiàn)中被稱為“重點(diǎn)采樣”。使用該方法,用戶為每一個(gè)光學(xué)和機(jī)械元件指定了一個(gè)重點(diǎn)采樣。在光線追跡的過程中,光線散射到了這些優(yōu)先的方向,這在引導(dǎo)光線到達(dá)FPA方面十分高效(圖4)。這極大的改善了統(tǒng)計(jì)結(jié)果,并且產(chǎn)生了熱自發(fā)輻射的一個(gè)準(zhǔn)確評(píng)估。然而,在一個(gè)具有許多結(jié)構(gòu)性元件的復(fù)雜、“真實(shí)生活”的系統(tǒng),這樣做單調(diào)乏味且耗時(shí),特別是如果分析者需要設(shè)定溫度和輻射系數(shù)。 /R&h#;l ]Yw$A 5doi4b>]! 圖3 熱發(fā)射主機(jī)筒的強(qiáng)力光線追跡。在這個(gè)例子中,入射光線沒有到達(dá)FPA。
8'%m! 圖4 發(fā)射朝向一個(gè)重要方向,計(jì)算更加高效,但是設(shè)置麻煩。
(zsv!U 處理這個(gè)計(jì)算最好的方法是采用熱輻射度量學(xué)的數(shù)學(xué)方法。計(jì)算熱自發(fā)輻射(TSE)基本上是該形式的總和 ][
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