光學鍍膜完成的大口徑反射光學元件光譜（反射率）非均勻性是非常重要的技術(shù)參數(shù)，必須滿足一定的技術(shù)要求才能用于系統(tǒng)中，因此必須具備相應的測試手段對大口徑反射元件的反射率（非）均勻性進行準確測量，從而保證用于系統(tǒng)中反射光學元件的質(zhì)量，滿足系統(tǒng)正常運行。 ]GS@