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中科院合肥研究院利用光譜電化學(xué)方法實(shí)現(xiàn)大米中Cd(II)無干擾檢測(cè)

發(fā)布:cyqdesign 2016-09-17 18:33 閱讀:1780
近期,中國科學(xué)院合肥物質(zhì)科學(xué)研究院智能機(jī)械研究所研究員黃行九和合肥物質(zhì)科學(xué)研究院安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所研究員趙南京通過將電化學(xué)方法與激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)結(jié)合實(shí)現(xiàn)對(duì)大米中微污染物Cd(II)無干擾的檢測(cè)。該工作在利用光學(xué)-電化學(xué)方法聯(lián)用實(shí)現(xiàn)復(fù)雜樣品中重金屬離子準(zhǔn)確檢測(cè)方面具有重要的科學(xué)意義,相關(guān)研究成果已發(fā)表在工程技術(shù)期刊《電化學(xué)學(xué)報(bào)》上(Electrochimica Acta 2016, DOI:http://dx.doi.org/doi:10.1016/j.electacta.2016.09.016)。 W+#Zmvo  
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電化學(xué)方法與激光誘導(dǎo)擊穿光譜聯(lián)用在層層組裝氧化石墨烯上檢測(cè)大米中微量Cd(II)的示意圖
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近年來,大米安全問題一直備受關(guān)注。在中國市場(chǎng)上,約有10%的大米存在Cd(II)污染問題,考慮到Cd(II)對(duì)人體健康的高危害,準(zhǔn)確檢測(cè)大米中Cd(II)的含量對(duì)保障大米安全至關(guān)重要。但大米中成分復(fù)雜多樣,一些共存離子的含量甚至是Cd(II)含量的幾百倍,如何實(shí)現(xiàn)大米中Cd(II)無干擾的檢測(cè)是目前研究者需要克服的問題。在傳統(tǒng)的檢測(cè)方法中電化學(xué)方法可以被用于大米中Cd(II)的檢測(cè),然而這些工作都無法克服來自共存離子Cu(II)和Mn(II)的干擾。因此,智能所和安光所的研究人員聯(lián)合攻關(guān)致力于利用新的檢測(cè)平臺(tái)以提高大米中Cd(II)檢測(cè)的準(zhǔn)確性和選擇性。 K b z|h,<  
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研究人員通過將電化學(xué)方法與LIBS聯(lián)用實(shí)現(xiàn)對(duì)大米中痕量Cd(II)的無干擾檢測(cè)。首先,利用電化學(xué)方法使大米消解液中Cd(II)以Cd(0)的形式富集在工作電極表面,然后利用LIBS對(duì)工作電極上的Cd(0)進(jìn)行定量分析,最終得到大米中Cd(II)的含量。在該方法中,氧化石墨烯(GO)通過層層組裝的方法修飾在工作電極表面以提高Cd(II)電富集的效率。在pH = 6.0的弱酸條件下,GO表面的羧基(COOH)去質(zhì)子化形成COO-使得GO表面帶負(fù)電荷。電化學(xué)富集過程中,對(duì)工作電極施加的負(fù)電壓會(huì)在電極周圍形成負(fù)電場(chǎng),Cd(II)在電場(chǎng)的驅(qū)動(dòng)下從溶液中轉(zhuǎn)移到工作電極上,并通過靜電吸引力吸附在GO表面,隨后這些Cd(II)被還原成Cd(0)固定在工作電極表面。 E 7"`D\*  
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大米消解液中成分復(fù)雜多樣,主要有Ca(II), Cu(II), Mg(II), Mn(II), Na(I), Zn(II), Ni(II)和K(I),干擾實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明這些離子對(duì)Cd(II)的LIBS檢測(cè)均無明顯影響。此外,電化學(xué)方法與LIBS聯(lián)用將傳統(tǒng)LIBS方法的檢測(cè)下限降低了3個(gè)數(shù)量級(jí),靈敏度提高了近3個(gè)數(shù)量級(jí)。該研究成果對(duì)改善傳統(tǒng)LIBS的檢測(cè)性能,以及對(duì)準(zhǔn)確檢測(cè)環(huán)境復(fù)雜樣品中痕量無機(jī)污染物含量提供了新思路。 d? 4-"9Y  
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該研究工作得到了國家重大科學(xué)研究計(jì)劃項(xiàng)目和國家自然科學(xué)基金等項(xiàng)目的支持。 pt~b=+bBm  
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