| 探針臺(tái) |
2019-07-18 13:51 |
芯片線路修改免費(fèi)測(cè)試
科技回報(bào)社會(huì)，為感謝社會(huì)各界對(duì)我中心的支持和信任，現(xiàn)回報(bào)一個(gè)月的免費(fèi)FIB測(cè)試。 Y.>F fL
FIB是什么？ . W ~&d_n
FIB中文名稱(chēng)聚焦離子束，英文名Focused Ion beam。是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過(guò)離子槍加速，聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像，此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似，或用強(qiáng)電流離子束對(duì)表面原子進(jìn)行剝離，以完成微、納米級(jí)表面形貌加工。 jP(|pz
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FIB線路修改 <L!9as]w
FIB能做什么事？ 94uAt&&b(
FIB是微納米分析測(cè)試的重要方式，主用應(yīng)用領(lǐng)域有： Epo/ }y
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