| 探針臺(tái) |
2019-07-25 14:52 |
I/V Curve的量測(cè)
驗(yàn)證及量測(cè)半導(dǎo)體電子組件的電性、參數(shù)及特性。比如電壓-電流。集成電路失效分析流程中，I/V Curve的量測(cè)往往是非破壞分析的第二步（外觀檢查排在第一步），可見(jiàn)Curve量測(cè)的重要性。 fs12<~+z
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服務(wù)范圍：封裝測(cè)試廠，SMT領(lǐng)域等 C5
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服務(wù)內(nèi)容：1.Open/Short Test Zt=X
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2.I/V Curve Analysis gf>5xf{M
3.Idd Measuring }y /t~f+
4.Powered Leakage（漏電）Test Yl=
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