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電磁注入檢測(cè)
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探針臺(tái)
2019-07-25 15:04
電磁注入檢測(cè)
在芯片正確執(zhí)行密碼運(yùn)算過(guò)程中，定位被測(cè)芯片程序運(yùn)行的某一特定時(shí)刻，注入合適能量的電磁脈沖，使芯片的運(yùn)行產(chǎn)生非預(yù)期錯(cuò)誤，并分析這些獲取到的非預(yù)期錯(cuò)誤是否會(huì)造成芯片中敏感信息的泄露。
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