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探針測(cè)試
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探針臺(tái)
2019-07-31 16:10
探針測(cè)試
通過(guò)微探針連接到芯片并引出所需信號(hào)，用于電學(xué)特性測(cè)試
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性能參數(shù)
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放大倍數(shù)50X，100X，200X，500X
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8個(gè)探針座
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帶屏蔽箱
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